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Microscopía de Fuerza Atómica: Una Herramienta Esencial en la Nanociencia
La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica avanzada de caracterización que ha transformado el estudio de materiales a escala nanométrica. Desde su desarrollo en la década de 1980, esta tecnología se ha consolidado como uno de los métodos más precisos para analizar superficies con una resolución extremadamente alta, permitiendo a investigadores explorar estructuras invisibles para los microscopios ópticos tradicionales.
La AFM funciona mediante el uso de una sonda con una punta extremadamente afilada que recorre la superficie de una muestra. A medida que la punta se desplaza, detecta variaciones en la fuerza entre la sonda y la superficie, generando un mapa tridimensional detallado. Este modo de operación permite obtener información sobre topografía, rugosidad, propiedades mecánicas e incluso interacciones químicas.